薄膜厚度測厚儀的原理和标準
時間：2020-05-10 發布：賽成儀器
薄膜厚度測厚儀的原理
将預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面。
以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。
薄膜厚度測厚儀的标準
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、
ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
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